SEM og EPMA

Scanning elektronmikroskopi (SEM) er en meget allsidig teknikk som benyttes til å studere objekter ved stor forstørrelse. Dette er en ikke-destruktiv bildedannende teknikk som egner seg til studier av en lang rekke materialer innen geologi, hvor man vil kombinere strukturell og morfologisk informasjon med analyser av kjemisk sammensetting. SEM i kombinasjon med EMPA (Electron Probe Micro Analysis) benyttes i mineralidentifikasjon, petrologisk beskrivelse, datering, zonering, modalanalyse, identifikasjon av sjeldne faser, termobarometri.
Granat i glimmerskifer.

I vanlige lysmikroskoper er den maksimale forstørrelse begrenset av bølgelengden til synlig lys og kan ikke bli større enn ca. 2000 ganger. I elektronmikroskopet benyttes en stråle av elektroner med mye kortere bølgelengde og oppløsningen ligger for de beste instrumentene på noen få nanometer. På elektronmikroskopene er det vanlig å ha påkoplet forskjellige elektrondetektorer for avbilding av de undersøkte objektene og røntgendetektorer for kjemisk analyse.

Elektronmikroskopet ved NGU er en Leo 1450 VP med wolfram-emitter. Instrumentet kan opereres med variabelt trykk i kammeret, noe som muliggjør billeddannelse og se­mikvantitativ analyse uten omfattende prøvepreparering. Instrumentet er montert med et røntgenanalysesystem fra Oxford Instruments, så det er mulig å foreta røntgen mikroanalyse (EPMA – electron probe micro analysis). Mest effektive er de såkalte ”Point and ID” semi-kvantitative ana­lysene, men det er mulig å oppnå kvantitative resultater med høy kvalitet. Det er i tillegg montert en detektor for katodeluminesens.